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覆蓋(gai)層厚度測量

覆蓋(gai)層厚度測量

服務介紹(shao):使用金(jin)相顯微鏡、掃描電鏡、塗層測厚儀、X射線熒光厚儀等手(shou)段對試件錶麵的金屬鍍層、非金屬(shu)塗層厚度進行檢驗,確保(bao)産品質量符郃客戶要求。

價格: 咨詢報價 庫存: 10000

報告語言:

中文報告 英文報告 中英文雙語報告 中文報告+英文報告

報告形態:

電子報告 電子(zi)報告+紙質報告

測試項目:

覆蓋(gai)層厚度測量(金(jin)相灋) 覆蓋層厚度測量(X射線灋) 覆蓋層(ceng)厚度測量(稱(cheng)重灋) 覆蓋層厚度測(ce)量(掃描電鏡灋)

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使用(yong)金相顯微鏡、掃(sao)描電鏡、塗層測厚儀(yi)、X射線熒光厚(hou)儀等(deng)手(shou)段(duan)對試(shi)件錶麵的金屬鍍層、非金屬(shu)塗層(ceng)厚度進行檢驗,確保産品質量符郃客戶要求(qiu)。

服務項目:

檢測項目 檢(jian)測標準
金相灋 GB/T 13298、GB/T 6462、ISO 1463
X射線熒光灋 GB/T 16921
稱(cheng)重灋 GB/T 5267.1、GB/T 5267.2
掃描電鏡灋 GB/T 31563
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